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SH/T 0339-1992 NaY 分子筛晶胞参数测定法

1992暂时没上架dest PDF 2 页，已对照渲染页。硅粉内标、2θ 约 53°～60°、硅理

发布 / 实施: 中国石油化工总公司 1992-05-20 批准 / 1992-05-20 实施
证据等级: dest PDF 2 页，已对照渲染页。硅粉内标、2θ 约 53°～60°、硅理论 2θ=56.123°、CuKα₁ λ=1.5405×10⁻¹⁰ m、r=0.02 Å / R=0.04 Å 按页面。Miller 指数平方和 211 与 243 按页面。

适用范围

NaY 分子筛晶胞参数。试样与硅粉（内标）混合，XRD 校正峰位后计算晶胞参数。适用于 NaY。

仪器 / 装置

XRD：CuKα，狭缝 DS 1°，RS 0.3 mm，SS 1°。恒温干燥箱 110℃±5℃。恒湿器：氯化钙过饱和溶液，18～28℃。

试剂 / 材料 / 标样

硅粉：上海测试技术研究所 X 射线衍射硅粉末标样（标号 XSI-FBY）。

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