方法库 / SH/T 0340-1992
SH/T 0340-1992 NaY 分子筛结晶度测定法
1992暂时没上架dest PDF 3 页,已对照渲染页。CuKα、2θ 14°~35° 八峰峰高
适用范围
- NaY 分子筛结晶度。XRD 某结晶相衍射强度与含量成正比,外标定量。适用于 NaY 分子筛。
仪器 / 装置
- X 射线衍射仪:CuKα,狭缝 DS 1/2°,RS 0.15 mm,SS 1/2°。恒温干燥箱 110℃±5℃。恒湿器:玻璃干燥器内盛氯化钙过饱和溶液,18~28℃。
试剂 / 材料 / 标样
- 标样符合 GSB G75004。样品研细至手感无颗粒。无其他化学试剂。
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